XRF熒光光譜分析儀已用于分析各種金屬塑料及電子材料中的鉛(Pb),鎘(Cd),砷(As),汞(Hg),鉻(Cr)和其他有毒有害元素。它提供的元素檢測下限(通常2ppm)滿足RoHS法規(guī)對于材料中元素限制的含量標準。
X射線熒光光譜儀(XRF)是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的,可做定量或定性分析。八種光路準直系統(tǒng),根據(jù)不同樣品大小自動切換。最小0.2mm準直器可以用于樣品微點測試,檢測光斑更小,射線能量更集中。內(nèi)置高清CCD攝像頭,能清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位。不能做全部元素掃描,因為輕質元素能量躍遷很小,不容易捕捉。
使用注意事項:
1.待測樣品硫含量測量完,應立即取走已裝進待測樣的樣品杯,防止待測樣漏油造成防漏油部件被污染,影響下一個待測樣硫含量的準確分析。
2.一般情況下不必關儀器電源,儀器可以24h連續(xù)運行,較長時間不分析樣品,請從樣品臺板上取下并保管好防漏油部件。
3.裝進待測樣的樣品杯,一定要放進樣品臺板上防漏油部件里,才可進行含量分析。
4.為避免防漏油部件被灰塵等污染,在未分析樣品期間,應用擋板蓋住取樣孔。
5.樣品杯為一次性使用,防漏油部件膜上目視到漏油溢出,應立即更換防漏油部件膜。