熒光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對樣品造成損壞。同時(shí)，測量可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。

 

　　今天小編要與大家分享的是熒光鍍層測厚儀的五種測量原理：

 

　　1、磁性測厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測量精度高。

 

　　2、超聲波測厚法：目前國內(nèi)還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的，國外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價(jià)格昂貴\測量精度也不高。

 

　　3、渦流測厚法：適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量，此種方法較磁性測厚法精度低。

 

　　4、放射測厚法：此種儀器價(jià)格非常昂貴(一般在10萬RMB以上)，適用于一些特殊場合。

 

　　5、電解測厚法：此方法不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層。一般精度也不高.測量起來較其他幾種麻煩。

 

　　在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測量值必須進(jìn)行多次測量才行。顯而易見，不論是基體或是覆層，越粗糙，測量值越不可靠。本儀器為獲得可靠的數(shù)據(jù)，基體的平均粗糙度應(yīng)小于覆層厚度的5％。而對于表面雜質(zhì)，則應(yīng)予去除。有的儀表上下限，以剔除那些“飛點(diǎn)”。

 

　　基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。