X熒光光譜礦石分析儀EDX8800MAX是一款多功能臺(tái)式能量色散X射線熒光 (XRF) 分析儀，適用于從鈉 (Na) 到鈾 (U) 的元素分析，適用于無(wú)機(jī)和有機(jī)-無(wú)機(jī)雜化材料、礦物、建筑材料等的批量和痕量分析以及油和燃料、聚合物、塑料、食品、藥品、化妝品和環(huán)境中的微量元素分析。

它可以處理各種樣品類(lèi)型，包括固體、壓制粉末和松散粉末、液體和過(guò)濾器，并在從100%到亞ppm水平（對(duì)于較重元素）的濃度范圍內(nèi)執(zhí)行無(wú)損定量分析，樣品重量從幾毫克到千克。 使用FP無(wú)標(biāo)準(zhǔn)分析解決方案可獲得元素篩選和元素比率。

X熒光光譜礦石分析儀可以輕松完成對(duì)以下礦種的測(cè)試：

鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)

銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)

鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)

鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)

鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)

鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)

鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)

鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)

鋁土礦

其它礦類(lèi)

Rh陽(yáng)極X射線管保證輕元素分析的良好性能。該光譜儀具有真空可拆卸進(jìn)樣器，可容納大尺寸樣品

EDX8800 Pro 光譜儀可測(cè)定固體、液體或粉末、溶液和薄膜、過(guò)濾器上的沉積物中從Na（鈉）到U（鈾）的元素。

光譜儀的操作是基于用 X 射線管產(chǎn)生的初級(jí)X射線照射樣品，記錄樣品元素的熒光，并借助校準(zhǔn)方程計(jì)算元素濃度，校準(zhǔn)方程是元素之間的關(guān)系元素注冊(cè)的二次發(fā)射的濃度和強(qiáng)度。該光譜儀具有高分辨率的譜線，因此可以準(zhǔn)確測(cè)定復(fù)雜基質(zhì)物質(zhì)中的元素。

落地式立式XRF熒光光譜分析儀EDXRF應(yīng)用：

貴金屬成分分析

控制段塞中的段塞堿含量

有害重金屬分析，符合RoHS指令

土壤中有害重金屬分析

RPF分析

特征：

集中簡(jiǎn)單功能實(shí)現(xiàn)合理價(jià)格

可根據(jù)應(yīng)用輕松定制

安裝SDD后，無(wú)需液氮或冷卻水

快速實(shí)現(xiàn)成分的無(wú)損分析

針對(duì)中等或重金屬元素的增強(qiáng)靈敏度

無(wú)需設(shè)置控制區(qū)域

高能分辨率：FWHM<125eV@5.9keV

高計(jì)數(shù)率：事件計(jì)數(shù)>2×105cps

可實(shí)現(xiàn)電冷，無(wú)需液氮

儀器規(guī)格：

光譜儀尺寸：560mm*380mm*410mm

樣品室尺寸：460mm*310mm*95mm

真空樣品室尺寸：Φ150mm×高75mm

重量：45Kg

元素范圍：Na11-U92

分析含量范圍：1ppm- 99.99%

探測(cè)器：AmpTek 高分辨率 SDD

DPP分析儀：4096通道DPP分析儀

激發(fā)源：50W X射線管

高壓機(jī)組：0-50kV

電源：220ACV 50/60HZ

環(huán)境：-10 °C 到35 °C

標(biāo)準(zhǔn)X熒光光譜礦石分析儀EDX8800MAX配置：

Ag-校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)磨機(jī)

真空泵壓樣機(jī)

樣品杯干燥箱

USB線熔珠機(jī)

電源線平衡

測(cè)試Mylar礦物標(biāo)準(zhǔn)樣品

校準(zhǔn)報(bào)告功率穩(wěn)定器

保修卡