當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > > > EDX-9000AXRF Spectrometer 能量色散X熒光光譜儀
簡(jiǎn)要描述:EDX9000A能量色散熒光光譜儀-合金元素牌號(hào)分析專家合金分析是鑒定樣品化學(xué)成分的過(guò)程。使用X射線熒光(XRF)光譜儀,不僅能快速確定合金牌號(hào)PMI(Positive material identification),而且能準(zhǔn)確得到整個(gè)合金材料的元素組成。EDX9000A已廣泛用于各種需要合金成分分析的行業(yè),從航空航天測(cè)試,原材料分析,質(zhì)量控制,冶煉,金屬加工,焊接,到廢料回收和快速分類篩檢等
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>一臺(tái)無(wú)需氬氣和氦氣消耗的高性能合金元素分析光譜儀XRF Analyzer
>媲美直讀光譜儀的檢測(cè)性能,wanquan的無(wú)損分析(無(wú)需破壞樣品)
>真空測(cè)試環(huán)境提供最佳輕元素檢測(cè)效果(Na,Mg,Al,Si,P)
>高分辨SDD檢測(cè)器一次測(cè)試可覆蓋多達(dá)40種元素
>無(wú)需每天重復(fù)標(biāo)定,快速分析,簡(jiǎn)單易用
>多組合濾光片系統(tǒng),有效提高微量元素檢出限
>堅(jiān)固耐用,適用于于各種復(fù)雜而嚴(yán)苛的現(xiàn)場(chǎng)工作環(huán)境
>jigao的性價(jià)比
EDX9000A結(jié)合了最新的樣品激發(fā)和信號(hào)檢測(cè)技術(shù),使得它的分析性能可以與實(shí)驗(yàn)室分析結(jié)果相媲美。通過(guò)配備不同濾光片和光路準(zhǔn)直器,高功率X射線管,以及美國(guó)Amptek的SDD硅漂移檢測(cè)器,EDX9000A實(shí)現(xiàn)了zuiyou化的硬件組合。
選擇金屬合金分析儀時(shí),客戶通常會(huì)重點(diǎn)關(guān)注測(cè)試準(zhǔn)確性,分析速度和設(shè)備耐用性,而EDX9000A是對(duì)上述三點(diǎn)指標(biāo)的wanmei體現(xiàn)。同時(shí),該光譜儀能同時(shí)對(duì)多種不同類型的合金進(jìn)行快速定性定量分析,包括:
鎂合金 鋁合金 鈦合金 高合金鋼 中低合金鋼 工具鋼 貴金屬
鈷合金 鎳合金 銅合金 鋅合金 貴重合金 黃銅 青銅 焊錫 等
EDX9000A操作簡(jiǎn)單,分析性能出色,還可拓展到以下應(yīng)用
>涂層厚度和薄膜:分析多層涂層,鋼涂層,雜質(zhì)等
>電鍍液元素分析
>催化劑貴金屬元素分析
產(chǎn)品特點(diǎn)
作為一款專業(yè)為合金元素分析而設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的光譜儀,EDX-9000A兼顧了耐用性,易于操作和高性價(jià)比。其顯著優(yōu)勢(shì)主要有
•更快---全程無(wú)損分析,一到三分鐘即可出結(jié)果(可實(shí)時(shí)刷新測(cè)試結(jié)果)
•更準(zhǔn)---強(qiáng)大的基于Windows的FP(基本參數(shù)算法)軟件降低了基體元素間吸收增強(qiáng)效應(yīng),并同時(shí)考慮到不同基體對(duì)光譜強(qiáng)度變化的干擾,把測(cè)試準(zhǔn)確度提高到了新的水平
•更穩(wěn)---使用最新的硅漂移檢測(cè)器SDD可得到更好的測(cè)試穩(wěn)定性和長(zhǎng)期重復(fù)性,該款檢測(cè)器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得更高的光譜強(qiáng)度(計(jì)數(shù)率CPS)。dute的多道分析器DPP可實(shí)現(xiàn)超過(guò)100,000 cps的線性計(jì)數(shù)速率而同時(shí)保證zuiyou的光譜分辨率,通常優(yōu)于130 eV,以更好地分離不同元素的光譜。與傳統(tǒng)的EDXRF臺(tái)式儀器相比,EDX9000A光譜儀可以全功率運(yùn)行,因此實(shí)現(xiàn)了更精準(zhǔn)的測(cè)試表現(xiàn)
•無(wú)需消耗昂貴的氬氣或者氦氣,極大的降低了儀器的使用和維護(hù)成本
•無(wú)需或者很少的樣品制備,通常簡(jiǎn)單的拋光樣品表面后即可上機(jī)測(cè)試
•不需要每天標(biāo)定儀器,開(kāi)機(jī)即可檢測(cè),大大提高生產(chǎn)效率,并降低了對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的依賴
•多重儀器硬件保護(hù)系統(tǒng),并可通過(guò)軟件進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全
•特別設(shè)計(jì)的光路和真空系統(tǒng)提高了輕元素的測(cè)試靈敏度3-5倍(Na, Mg, Al, Si, P)
•友好的用戶界面,可定制的分析報(bào)告,可一鍵打印測(cè)試報(bào)告,包括分析結(jié)果,樣品信息,光譜信息和樣品圖像
•八種光路準(zhǔn)直系統(tǒng),根據(jù)不同樣品大小自動(dòng)切換,亦可測(cè)試樣品不同位置再求平均值,降低樣品不均勻性造成的誤差
•高清內(nèi)置攝像頭,清晰地顯示儀器所檢測(cè)的樣品部位
合金元素檢測(cè)專家EDX9000A
>儀器參數(shù)
儀器外觀尺寸: 560mm*380mm*410mm |
超大樣品腔:460mm*310mm*95mm |
半封閉樣品腔(抽真空時(shí)):Φ150mm×高75mm |
儀器重量: 45Kg |
元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾 |
可分析含量范圍:1ppm- 99.99% |
探測(cè)器:AmpTek 高分辨率電制冷SDD硅漂移檢測(cè)器 |
多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器 |
X光管:50W高功率鈹窗光管 |
高壓發(fā)生裝置:電壓最大輸出50kV,自帶電壓過(guò)載保護(hù) |
電壓:220ACV 50/60HZ |
環(huán)境溫度:-10 °C 到35 °C |
儀器配置
>標(biāo)準(zhǔn)配置 | >可選配置 |
純Ag初始化標(biāo)樣 | 交流凈化穩(wěn)壓電源 |
真空泵 | 合金標(biāo)樣 |
樣品杯 | |
USB數(shù)據(jù)線 | |
電源線 | |
測(cè)試薄膜 | |
儀器出廠和標(biāo)定報(bào)告 | |
保修卡 |
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